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fischer x-ray xdl 230 菲希爾膜層測厚儀 由于采用了FISCHER*基本參數法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。XDL 230特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。
Couloscope CMS2菲希爾庫倫法涂層測厚儀 作為測量鍍層厚度簡單的方法之一，庫侖法可以用于各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結構， 當允許破壞性測量時，它提供了一個比X射線更經濟的替代方法。 應用 強大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產監(jiān)控和成品的質量檢驗。
Helmut Fischer銅箔測厚儀SR-SCOPE RMP30-S 根據微電阻方法EN14571: 2004，采用微處理器控制的手提式銅箔測厚儀。德國FISCHER菲希爾SR-SCOPE RMP30-S銅板測厚儀-------印制電路板銅厚的測量，該便攜式設備采用 4 點電阻法
fischer涂層測厚儀Dualscope FMP40，fischer涂層測厚儀，吉馨儀器現貨供應，產品質量優(yōu)價格好。
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